Tijdens het jaarlijks congres van de National Council of Educational Measurement op 10 april a.s. in New York zal aan UT-hoogleraar prof.dr. W.J. van der Linden de '1996 NCME Triennial Award for the Application of Educational Measurement Technology' uitgereikt worden. Van der Linden is hoogleraar Onderwijskundige Meetmethoden en Data-analyse bij de faculteit Toegepaste Onderwijskunde. Hij ontvangt, als eerste niet-Amerikaan, de driejaarlijkse prijs vanwege zijn voortgaande onderzoek op het gebied van het optimaal ontwerpen van toetsen.
De groep van professor van der Linden verricht al ruim tien jaar onderzoek naar de inzet van computers in het onderwijs ten behoeve van het maken, afnemen en beoordelen van studietoetsen. Prof. van der Linden heeft voor het verbeteren van de kwaliteit van toetsen gewerkt aan zogeheten 'item response modellen': statistische modellen die voorspellen welke waarschijnlijkheid een bepaald antwoord (= response) heeft bij een opgave (= item) in een toets. Met behulp van deze modellen kan informatie over alle items over een bepaald leerstofgebied opgeslagen worden in een 'test item bank' en zijn deze opgaven objectief vergelijkbaar wat betreft moeilijkheidsgraad. De onderwijsprijs voor prof. van der Linden is een blijk van internationale erkenning voor het onderzoek van zijn groep. De National Council of Educational Measurement is de grootste wetenschappelijke vereniging op het gebied van studietoetsen en psychologische tests ter wereld.
Verder kwam onlangs van de Law School Admission Council uit de Verenigde Staten de toezegging een deel van haar onderzoek bij de vakgroep Onderwijskundige Meetmethoden en Data-analyse uit te zetten.
